כוח אטומי afm מיקרוסקופ
מיקרוסקופ כוח אטומי (AFM), מכשיר אנליטי שניתן להשתמש בו כדי לחקור את מבנה פני השטח של חומרים מוצקים, כולל מבודדים.הוא בוחן את מבנה פני השטח ותכונותיו של חומר על ידי זיהוי האינטראקציה הבין-אטומית החלשה ביותר בין פני הדגימה הנבדקת לבין אלמנט רגיש למיקרו-כוח.יהיה זוג של כוח חלש קצה מיקרו שלוחה רגיש במיוחד קבוע, הקצה השני של הקצה הקטן קרוב לדגימה, ואז זה יקיים אינטראקציה איתו, הכוח יעשה את דפורמציה מיקרו שלוחה או שינויים במצב התנועה.בעת סריקת המדגם, החיישן יכול לשמש כדי לזהות שינויים אלה, אנו יכולים לקבל את התפלגות מידע הכוח, כדי לקבל את המורפולוגיה של פני השטח של מידע ברזולוציה ננו ומידע חספוס פני השטח.
★ בדיקת סריקה משולבת ואייל מדגם שיפרו את יכולת האנטי-הפרעות.
★ מכשיר מיקום לייזר ובדיקה מדויקים הופכים את החלפת הגשושית והתאמת הנקודה לפשוטה ונוחה.
★ על ידי שימוש בגישת הדגימה המתקרבת, המחט יכולה להיות בניצב לסריקת הדגימה.
★ מנוע דופק אוטומטי בקרת בדיקה מדגם מתקרב אנכית, להשגת מיקום מדויק של אזור הסריקה.
★ אזור סריקה לדוגמא שניתן להזיז בחופשיות על ידי שימוש בעיצוב של מכשיר נייד מדגם דיוק גבוה.
★ מערכת תצפית CCD עם מיקום אופטי משיגה תצפית ומיקום בזמן אמת של אזור סריקת דגימת הבדיקה.
★ עיצוב מערכת הבקרה האלקטרונית של מודולריזציה הקל על תחזוקה ושיפור מתמיד של המעגל.
★ השילוב של מעגל שליטה במצב סריקה מרובים, שיתוף פעולה עם מערכת תוכנה.
★ מתלה קפיצי אשר פשוט ופרקטי שיפר יכולת אנטי-הפרעות.
| מצב עבודה | FM-Tapping, מגע אופציונלי, חיכוך, פאזה, מגנטי או אלקטרוסטטי |
| גודל | Φ≤90 מ"מ,H≤20 מ"מ |
| טווח סריקה | 20 מ"מ כיוון XY,2 מ"מ בכיוון Z. |
| רזולוציית סריקה | 0.2 ננומטר בכיוון XY,0.05 ננומטר בכיוון Z |
| טווח תנועה של מדגם | ±6.5 מ"מ |
| רוחב הדופק של המנוע מתקרב | 10±2ms |
| נקודת דגימת תמונה | 256×256,512×512 |
| הגדלה אופטית | 4X |
| רזולוציה אופטית | 2.5 מ"מ |
| קצב סריקה | 0.6 הרץ ~ 4.34 הרץ |
| זווית סריקה | 0°~360° |
| בקרת סריקה | 18 סיביות D/A בכיוון XY,16 סיביות D/A בכיוון Z |
| דגימת נתונים | 14-bitA/D,דגימה סינכרונית כפולה של 16 סיביות A/D רב ערוצית |
| מָשׁוֹב | משוב דיגיטלי DSP |
| קצב דגימת משוב | 64.0KHz |
| ממשק מחשב | USB2.0 |
| סביבת פעולה | Windows98/2000/XP/7/8 |